
朱银芳
时间:2012-11-13
| 职位 助理研究员 | |
办公室 | 3号楼 310 室 | |
电话 | (010)8230 5045 | |
传真 | (010)8230 5141 | |
电子邮件 | yfzhu@semi.ac.cn | |
通讯地址 | 北京市海淀区清华东路甲35号 | |
个人简历
2012年7月 中国科学院半导体研究所,微电子学与固体电子学,工学博士
2007年7月 四川大学物理科学与技术学院,微电子学,理学学士
研究领域
射频微机械(RF MEMS)开关
微机械结构及器件的可靠性研究
用于生化探测的微纳谐振器
成果出版
Y. F. Zhu, F. X. Zhang, J. L. Yang, et al., “Stability of Mechanical Properties for Sub-Micrometer Single Crystal Silicon Cantilever under Cyclic Load”, J. Microelectromech. Syst., 2011, 20(1): 178-183.
Y. F Zhu, J. L. Yang, et al., “A new scheme for detecting infrared photon with high sensitivity using microcantilever”, 6th Asia-Pacific Conference on Transducers and Micro/Nano Technologies, July 8-11, 2012, Nanjing, China.
L. J. Tang, Y. F. Zhu, J. L. Yang, et al., “Dependence of wet etch rate on d eposition, annealing conditions and etchantsfor PECVD silicon nitride film”, Journal of Semiconductors, 2009, 30(9), 096005.
F. X. Zhang, Y. F. Zhu, J.L. Yang, et al., “Sensitive detection of infrared photons using a high-Q microcantilever”, Journal of Semiconductors, 2011, 32(9), 094010-4.
申请专利
朱银芳,魏伟伟,毛旭,杨晋玲,杨富华,一种快速射频微机械开关,发明专利,申请号:201210105187.2
张逢新,杨晋玲,朱银芳,基于光压效应的红外光子探测方法,发明专利,申请号:201110096643.7
杨晋玲,周威,朱银芳,杨富华,适用于激光共聚焦测量装置的光学窗口片,发明专利,专利号:ZL200920106986.5
杨晋玲,周威,周美强,朱银芳,杨富华,微机电系统机械组元可靠性评估的测试装置及方法,发明专利,专利号:ZL 200910078562
荣誉奖励
2011年6月:中国科学院半导体研究所“第九届五四青年交流会”三等奖。
2010-2011学年:中国科学院研究生院“三好学生”荣誉称号。
2005-2006学年:四川大学“芯源奖学金”三等奖;四川大学单项一等奖学金。
2004-2005学年:四川大学“优秀学生”称号,;四川大学“优秀三等”奖学金。
2003-2004学年:四川大学“关心优秀学生奖学金”二等奖。